Правильная ссылка на эту страницу
http://az-design.ru/Support/Archiv/Elc1983/D19830531Elc037.shtml

Выявление проблем, а не только ошибок

Хотя в большинстве производственных ситуаций оказывается вполне достаточным выполнение основных испытаний типа «годен-негоден», однако для получения содержательной информации о поведении прибора его разработчики и инженеры по оценке качества обязательно должны располагать данными о циклах испытаний, предшествующих появлению ошибки. Конструктор прибора или инженер по оценке качества должен иметь возможность определить, на каком именно участке тест-программы произошел отказ. Это нужно для того, чтобы выявить в ЗУ отказы, связанные с определенными адресами, а в микропроцессоре — отказы, связанные с определенными инструкциями. Чтобы правильно определить испытательный цикл, в котором произошел отказ, необходимо, по существу, прекратить испытание сразу же после обнаружения ошибки в поведении испытываемого прибора, т.е. в этом же цикле.

Однако неизбежные задержки между источником тестовых кодов и выходными сигналами испытываемого прибора очень сильно затрудняют остановку процесса испытаний точно в том цикле, в котором произошла ошибка, особенно при испытаниях на максимальных тактовых частотах. Для компенсации этих задержек в испытательной системе должны быть предусмотрены средства подсчета количества циклов, прошедших от момента обнаружения ошибки до остановки испытаний. Если же цикл с ошибкой определен, то соответствующий ему тест-код можно восстановить и проанализировать уже после завершения испытаний.

Для этой цели в установке S-3295 предусмотрены магазинный стек регистрации «истории» испытаний и счетчик событий-ошибок. Этот стек, размещенный в процессоре тестовых кодов, хранит постоянно обновляемую информацию о 255 адресах последних исполненных инструкций (из счетчика команд). Сразу же после обнаружения ошибки счетчик событий-ошибок начинает фиксировать число выполненных циклов вплоть до момента, когда завершится процесс остановки испытаний по ошибке. Поэтому стек позволяет точно определить местоположение и последовательность данных, вызвавших эту ошибку.

В системе S-3295 предусмотрен и другой способ хранения информации об ошибках, особенно удобный в режиме алгоритмического формирования тестовых кодов. В основной управляющей программе перед началом функционального теста можно задать условие сдвига при каждой ошибке. Когда компараторы контактных плат будут регистрировать любую ошибку, все возбуждающие сигналы и ошибочные выходные данные со всех контактных плат в цикле с ошибкой будут сдвигаться в локальную память. Для этого сдвига используется тактовый импульс.

Набор синхронизирующих регистров гарантирует правильное совмещение возбуждающих сигналов и соответствующих им выходных ошибок. Функция сдвига при ошибке позволяет испытательной системе «расшифровать» испытываемый прибор, например ПЗУ, сравнивая его выходной сигнал с фиксированным битом (обычно нулем) и регистрируя ошибки способом, описанным выше.

Третий вариант хранения информации об ошибках предусматривает использование режима остановки по ошибке в сочетании с непрерывным хранением в локальной памяти возбуждающих и выходных данных в течение всего испытания. Испытание прекращается при обнаружении ошибки, и счетчик событий-ошибок регистрирует количество событий после ошибки. В результате оказывается зафиксированной как кодовая строка, соответствующая ошибке, так и 32К кодовых строк, ей предшествующих (или больше — в зависимости от секционирования локальной памяти). В таком варианте данная испытательная система работает как чрезвычайно мощный логический анализатор.

Родительская статья:

Установка для испытания СБИС с увеличенным числом контактов и расширенными функциональными возможностями

Выходные данные:

Журнал "Электроника" том 56, No.11 (667), 1983г - пер. с англ. М.: Мир, 1983, стр.54

Electronics Vol.56 No.11 May 31, 1983 A McGraw-Hill Publication

Раздел: МЕТОДЫ, СХЕМЫ, АППАРАТУРА

Тема:     Измерения и испытания





Дата последнего изменения:
Thursday, 21-Aug-2014 09:10:55 MSK


Постоянный адрес статьи:
http://az-design.ru/Support/Archiv/Elc1983/D19830531Elc037.shtml