Правильная ссылка на эту страницу
http://az-design.ru/Support/HardWare/ComputerAutomation/X19871102Elc046.shtml

Позвольте возразить...

С большим разочарованием я обнаружил, что в статье Маклауда «Высокоуниверсальный тестер схемных плат компании GenRad»2{Электроника, 1987, №12, «Методы, схемы, аппаратура»} полно дезинформации. Я сделал попытку исправить эти ошибки, взяв неправильные или вводящие в заблуждение положения этой статьи и представив по каждому из них свои возражения.

1. В статье утверждается, что тестер GR2750 компании GenRad «...представляет собой первую систему для испытаний схемных плат, которая может одновременно проверять аналоговые и цифровые схемы в реальном масштабе времени». В 1978г. компания Computer Automation (СА) выпустила комплекс Capable 49 — систему, вполне способную выполнять одновременные испытания аналоговых и цифровых схемных блоков в реальном времени.

2. «Кроме того, новый тестер компании GenRad содержит генератор синхронизации, формирующий восемь периодов синхронизации, что дает возможность эмулировать функционирование любого промышленного или оригинального микропроцессора и его шины в реальном масштабе времени. В других тестерах схемных плат, содержащих однопериодные тактовые генераторы синхронизации, для такой эмуляции шины необходимо использовать заранее известный конкретный микропроцессор».

Это утверждение, хотя и правильное с технической точки зрения, означает, что все остальные тестеры схемных плат оснащены одноцикловыми тактовыми генераторами. А это не так. Все тестеры для схемных плат компании СА обеспечивают многоцикловую синхронизацию. А наш новейший тестер Ironman по своим возможностям в восемь раз превосходит систему компании GenRad, имея полные 64 цикла синхронизации! В системах ряда других конкурентов также предусмотрены восемь циклов синхронизации.

3. «Впервые за всю историю развития методов и технических средств испытаний схемных плат инженеры по испытаниям, разрабатывающие тест-программы, и технический персонал, выполняющий испытания по готовым тест-программам, получают все необходимые данные из единой базы данных системы». В 1983г. компания СА ввела для этой функциональной возможности специальный термин «Разделение тест-программ» (TestSharing). Все три наших основных тестера схемных плат — системы Marathon, Compact и Ironman — оснащены средствами TestSharing.

4. «Новый тестер может одновременно измерять восемь аналоговых сигналов, каждый на частоте до10 МГц. В другом режиме возможно измерение четырех аналоговых высокоимпедансных выходов и четырех аналоговых сигналов, снимаемых с выходов с согласованным импедансом, на частотах вплоть до 50 МГц. Другие тестеры позволяют измерять до шести аналоговых сигналов на частотах от 100 кГц до 1 МГц». Тестеры компании СА позволяют измерять до 20 сигналов на частоте 10 МГц каждый, а их предельные частотные возможности достигают 1 ГГц. Я полагаю, что действительно есть и«другие тестеры», обрабатывающие всего до шести сигналов, однако и здесь статья вводит читателя в заблуждение.

5. «В испытательной системе компании GenRad на каждый контакт выделен беспрецедентно большой объем памяти ЗУПВ емкостью 16К*4 бит. Все конкурирующие устройства имеют не более 4К бит памяти на контакт». Компания СА в своем тестере Ironman, выпущенном более года назад, предусмотрела для каждого из тест-контактов емкость ЗУПВ величиной 16К*4 бит. И практически все остальные конкуренты уже в течение ряда лет имеют в своих системах поконтактную память не менее 4К*4 бит, а некоторые уже выпускают оборудование с памятью 16К*4 бит.

6. «...данный тестер... позволяет также точно воспроизводить полный шинный цикл для любого микропроцессора на его тактовой частоте. До сих пор существующие тестеры позволяли в каждом тестовом цикле генерировать только один шинный цикл». В 1979г. тестеры компании СА воспроизводили полный шинный цикл для любого микропроцессора на его тактовой частоте, а более года назад уже обеспечивали возможность тестирования в реальном времени на частоте 10 МГц. Такая возможность в принципе имеется в структуре практически каждой системы для динамических испытаний, выпущенной любым изготовителем тестеров за последние четыре-пять лет [р.12].

Рик Хеннингер
Управляющий маркетингом
Фирма Computer Automation

...и позвольте объяснить

Отвечая на письмо Рика Хеннингера, хочу сообщить следующее:

1. Одновременные испытания аналоговых и цифровых схемных блоков требуют много большего, чем только возможность выполнить одиночное измерение аналогового сигнала в ответ на воздействие пакета цифровых данных, следующих с высокой скоростью. Такие одновременные испытания требуют аппаратной системы линейной синхронизации цифровой и аналоговой подсистем тестера, а также дополнения используемых аналоговых измерительных устройств, обслуживающими ЗУПВ. Это означает, что генерируемые сигналы произвольной формы можно использовать полностью синхронно с управляющими сигналами от цифровой подсистемы тестера, причем работать : высоким быстродействием благодаря обслуживающей памяти, которой оснащается каждое измерительное устройство. В другом варианте быстрые выборки аналоговых сигналов можно получать от таких схем, как цифро-аналоговые преобразователи, при испытаниях на высокой тактовой частоте, а их результаты для последующего системного анализа записывать в память аналоговые измерительных устройств. Если Рик не говорит, что испытательная система Capable позволяет работать в таком режиме, то я могу только предположить, что он не все понял в данной статье.

2 Мы в компании GenRad не утверждаем, что система GR2750 представляет собой единственный тестер схемных плат, который обеспечивает многоцикловую синхронизацию, и согласны с тем, что уже в течение ряда лет существует несколько тестеров, обладающих такими возможностями. Однако именно интеграция этих возможностей есть то главное, что позволяет считать заложенные в комплексе GR2750 методы испытаний подлинно революционными, а его возможности — чрезвычайно высокими.

3. Термин «разделение тест-программ» и «база данных» — далеко не одно и то же, а Рик спутал их между собой. Для тестера GR2750 это означает, что в нем не требуется хранить несколько описаний схемы для реализации различных методов испытаний, выполняемых данной испытательной системой. Вся информация об испытываемом тестером устройстве размещена в одном месте. Эта информация с целью обеспечения независимости тестовых стратегий сконцентрирована в единой базе данных, а не в целом ряде файлов, доступ к которым могут иметь различные испытательные системы, как это сделано в системе TestSharing.

4. Испытательные системы компании Computer Automation могут, по словам Рика, измерять до 20 однопроводных сигналов, однако в этом заявлении не учтен один фактор. Тестер GR2750 может не только подавать на испытываемое устройство и снимать с него несколько аналоговых сигналов, но и обеспечивает весь комплекс возможностей внутрисхемных и функциональных испытаний цифровых и аналоговых блоков через один программно-управляемый контакт. В случае же системы компании СА аналогичная задача может решаться только посредством нескольких специальных плат внутри самого тестера и с помощью объединения нескольких отдельных тестеров.

5. Поконтактные ЗУПВ полезны только в том случае, если их емкость достаточна для обеспечения эффективной производительности тестера. Возможности тестера GR2750 генерировать и выполнять«функциональные испытания» — вот то, что делает конфигурацию его памяти действительно заслуживающей внимания.

6. Генерация шинных циклов на тестовых шагах была возможна в некоторых тестерах уже в течение ряда лет. Однако отличие системы GR2750 состоит в том, что в рамках синхронизации при генерации шинного цикла он позволяет формировать правдоподобные временные диаграммы сигналов, обеспечивающие решение проблем «мертвых зон» и «рассогласования временных параметров на разных контактах», которые ограничивают возможности многих существующих сегодня испытательных систем.

В заключение хочу сказать, что статья о тестере GR2750 — это не просто перечень разрозненных фактов, а «интеграция» целой совокупности аппаратных и программных функциональных возможностей, благодаря которым испытательная система GR2750 представляет собой именно то, что нужно потребителю.

С появлением тестера GR2750 на рынок выходит новое поколение аппаратных и программных средств и мощных процессоров для испытательных систем, жестко проинтегрированных в единую систему. В результате пользователи системы GR2750 получают возможность более эффективно выполнять действительно четырехквадрантные испытания по множественным стратегиям с такой высокой производительностью, которую не обеспечивает ни одна из выпускаемых сегодня конкурирующих систем для испытаний схемных плат [р.12].

Дейвид Тоус
Управляющий маркетингом продукции
Фирма GenRad Inc.

Выходные данные:

Журнал "Электроника" том 60, No.14 (772), 1987г - пер. с англ. М.: Мир, 1987, стр.68

Electronics Vol.60 No.14 July 9, 1987 A McGraw-Hill Publication

Раздел: РАЗНОЕ

Тема:     Письма читателей





Дата последнего изменения:
Thursday, 21-Aug-2014 09:10:44 MSK


Постоянный адрес статьи:
http://az-design.ru/Support/HardWare/ComputerAutomation/X19871102Elc046.shtml