Правильная ссылка на эту страницу
http://az-design.ru/Support/HardWare/HP/Y19790426Elc114.shtml

Факторы, которые следует учитывать при выборе автоматизированного испытательного оборудования

Является ли автоматизированное тестирование панацеей? При сегодняшне м объеме производства и функциональной насыщенности схемных печатных плат это не столько панацея, сколько необходимость. Однако для того чтобы принять технически обоснованное решение относительно тестирования схемных плат, требуется четкое и полное представление о возможностях существующих испытательных систем и о конкретных условиях производства.

Факторы качества плат.
Рис.1. Факторы качества плат.

Когда тестировать? Этот вопрос не менее важен, чем вопрос о том, как тестировать. Стоимость обнаружения дефектов резко возрастает с каждой технологической операцией. Таким образом, нужно пытаться обнаруживать ошибки на как можно более ранних этапах процесса производства; однако из этого не обязательно следует, что решением проблемы является всеобъемлющий входной контроль деталей и компонентов. Реальная цель — это высокая скорость и эффективность окончательного тестирования (финишного контроля). Это требует высокого процента выхода годных схемных печатных плат. А как показывает рис.1, высокий процент выхода годных схемных печатных плат обеспечивается несколькими факторами, в том числе использованием хороших деталей.

Технология сборки схемной печатной платы дает от 20 до 80% годных плат. Средний выход годных — 60%. Неработоспособные схемные платы могут содержать дефекты, виды которых указаны на приведенном ниже рис.2.

Причины дефектов.
Рис.2. Причины дефектов.

При 60%-ном выходе годных схемных плат и отсутствии тестирования плат даже простое изделие, содержащее пять плат, может привести к перегрузке участка окончательного тестирования. 9 из 10 устройств могут оказаться неработоспособными. Это делает уровень схемной платы весьма целесообразным для полного тестирования. Поскольку это первая возможность для выявления дефектов, входящих в приведенный выше полный перечень дефектов. Однако какой именно тестер является наиболее подходящим для вас?

Выбор тестера. Не может быть простого и однозначного ответа относительно выбора автоматизированной системы для испытания схемных плат. Однако на основании нашего опыта мы можем сказать, что при этом следует учитывать, в числе прочих следующие факторы: процент выхода годных в производстве, процент выхода годных при тестировании, виды дефектов, объем производства схемных печатных плат, типы плат и предполагаемое применение системы для проверки новых изделий.

Позволив ли испытательная система обнаруживать все ошибки тех видов, которые вы предполагаете встретить? Будет ли она выдавать диагностическую информацию на уровне компонентов? Сможет ли она проверять существующие и будущие типы плат, причем делать это достаточно быстро? Легко ли производить ее расширение и адаптирование в соответствии с изменяющимися требованиями?

Выход годных изделий в зависимости от сложности изделия.
Рис.3. Выход годных изделий в зависимости от сложности изделия.

Каковы истинные затраты? Сколько времени и усилий следует затратить на программирование, отладку, оснащение системы дополнительными приспособлениями и на обучение обслуживающего персонала? И сможете ли вы получить быструю и компетентную техническую помощь, если она вам потребуется? Фирма HP может помочь вам ответить на эти ключевые вопросы.

Наш опыт — свыше 2 млн. проверенных плат. Новые автоматизированные схемные испытательные системы фирмы HP — результат нашего большого опыта в области автоматизированного тестирования схем.

Мы затрачивали такие большие средства на специализированное оборудование и ручные стенды, что еще в 1970г. разработали автоматизированную схемную испытательную систему под названием Optest I. Эта система, а также ее модернизированный вариант Optest II, эксплуатируется и сегодня. Системы Optest I и Optest II обеспечивают сейчас проверку свыше 100 тыс. схемных печатных плат ежегодно. Наша новая схемная испытательная система является, по сути дела, изделием третьего поколения, разработанным на основе более чем 8-летнего опыта реальной работы предыдущих систем. В настоящее время на собственных предприятиях фирмы HP применяются 46 этих новых автоматизированных испытательных систем.

Внутрисхемное и функциональное тестирование. Тестирование схемных плат предусматривает множество возможных решений. Вы можете выбирать любые установки — от простых тестеров для обнаружения коротких замыканий до полностью автоматизированных систем, от тестеров, позволяющих контролировать параметры внутрисхемных компонентов, до функциональных испытательных систем которые обеспечивают проверку дш амических характеристик законченных схемных плат.

Новая испытательная система для схемных плат HP3060А фирмы HP (цена — 74 тыс. долл. за стандартный работоспособный комплект) — это совершенная система, в которой сочетаются новейшие методы внутрисхемного контроля и функционального тестирования. Система включает пакет мощных программных средств, обеспечивающих быстрое проектирование программ. Это апробированные программные средства, у которых легкость использования сочетается с гибкостью в решении сложных проблем тестирования. Добавление функционального тестирования к внутрисхемному может дать относительно малое увеличение процента выхода годных плат. Однако это небольшое увеличение мс жет привести к существенному росту процента выхода годных изделий, как показано на рис.3. Например, в изделии, содержащем 10 печатных плат, увеличение выхода годных плат всего на 8% (с 90 до 98%) приведет к повышению доли готовых изделий с приблизительно 35 до 80%. Это большая выгода и серьезный повод для того, чтобы рассмотреть целесообразность применения системы HP3060А фирмы HP.

Стандартная система 3060А имеет полный набор средств функционального тестирования аналоговых и цифровых схем, обеспечивающих возможность проверки большинства аналоговых, цифровых или гибридных схемных плат, включая тестирование микропроцессорных плат на рабочей тактовой частоте с использованием методов сигнатурного анализа.

Для проверки некоторых плат, например больших сложных логических плат, можно с успехом использовать систему тестирования цифровых схемных печатных плат DTS-70 (цена — 90350 долл. за стандартный работоспособный комплект). Этот тестер, выполненный на базе моделирующего устройства, позволит определить, насколько эффективны ваши тест-программы, и выявит ту часть схемы, которая не полностью охватывается проверкой. Таким образом, он дает важную информацию обратной связи, позволяющую улучшить разработку программ. Тестер DTS-70 — исключительно полезный инструмент для научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ, позволит моделировать разрабатываемые схемы и выпускать изделия лучшего качества. Ваш инженер-испытатель оценит реализуемые тестером возможности моделирования контуров обратной связи, нахождения разомкнутых цепей и идентификации перемежающихся ошибок (сбоев).

Важно то, что мощность и гибкость тестера DTS-70 определяются его контроллером, компьютером HP 1000. Используя операционную систему реального времени, можно одновременно производить тестирование схемных печатных плат и разработку новых программ. Если потребности в тестировании возрастут, то можно добавить еще два испытательных стенда и несколько терминалов для программирования, не вводя дополнительных вычислительных средств. Операционная система совместима с программными средствами управления базой данных, позволяющими хранить тест-данные и помогающими лучше управлять производством. Тестер DTS-70 можно будет легко включить в запланированные на перспективу вычислительные сети, обеспечивая распределенную обработку данных и связь с вашим вычислительным центром.

Экономические соображения. Может ли автоматизированное испытательное оборудование для проверки схемных печатных плат дать экономические выгоды? На этот вопрос опять-таки нет простых ответов. Однако мы можем сказать, что нам это оборудование экономические выгоды дало и имеется большая вероятность того, что оно также даст возможность любому заказчику сэкономить денежные средства, если на его предприятии существует какое-либо из следующих условий: большой объем производства печатных плат, сложные схемные платы, задержки в тестировании изделий, низкий темп выпуска готовых систем из-за большого технологического отхода, высокая стоимость запасов, предусматриваемых в производстве, а также высокая стоимость гарантийного обслуживания.

Производство в каждом случае является специфичным, однако мы можем помочь проанализировать его, сравнивая стоимость тестирования или отсутствия тестирования на каждом уровне, чтобы обеспечить наилучшее распределение ресурсов, выделяемых на тестирование [pp.78—79].

Hewlett-Packard, P.O.Box 60001,
Loveland, Colorado 80537

Выходные данные:

Журнал "Электроника" том 52, No.09 (561), 1979г - пер. с англ. М.: Мир, 1979, стр.121

Electronics Vol.52 No.8 Aprilh 26, 1979 A. McGraw-Hill Publication

Раздел: РЕКЛАМНЫЕ СООБЩЕНИЯ

Тема:     Тестеры схемных плат





Дата последнего изменения:
Thursday, 21-Aug-2014 09:10:44 MSK


Постоянный адрес статьи:
http://az-design.ru/Support/HardWare/HP/Y19790426Elc114.shtml