Правильная ссылка на эту страницу
http://az-design.ru/Support/HardWare/Teradyne/Z19800424Elc116.shtml

Установка для проверки полупроводниковых ЗУ

Отделение Semiconductor Test фирмы Teradyne Inc. (Вудленд-Хиллс, шт.Калифорния) приступает к изготовлению установки J389 для проверки существующих и будущих быстродействующих динамических и статических ЗУПВ. Установка обеспечивает погрешность измерения временного расположения фронтов импульсов, превышающую 250 нс. В ней применен метод автоматического захвата фронтов импульсов, включающий компенсацию погрешностей синхронизации способом рефлектометрии во временной области. Первая демонстрация установки J389 состоится в мае 1980г. на выставке «Семикон Уэст» в Сан-Матео (шт.Калифорния). Установка программируется на языке высокого уровня Паскаль-Т. Специалисты фирмы внесли в этот язык ряд специальных контрольных операторов, что позволило вдвое сократить время генерации программы [р.34].

Выходные данные:

Журнал "Электроника" том 53, No.10 (588), 1980г - пер. с англ. М.: Мир, 1980, стр.128

Electronics Vol.53 No.10 April 24, 1980 A McGraw-Hill Publication

Раздел: ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ

Тема:     США





Дата последнего изменения:
Thursday, 21-Aug-2014 09:10:44 MSK


Постоянный адрес статьи:
http://az-design.ru/Support/HardWare/Teradyne/Z19800424Elc116.shtml